Sekundarionen- und Neutralteilchenmassenspektrometrie an oxidischen Dunnschichtsystemen: Der Einfluss ionenbeschussindizierter Prozesse auf die Sekundarteilchenemission im Zerstaubungsgleichgewicht und an Schichtgrenzflachen - Dieter Lipinsky - Books - Deutscher Universitatsverlag - 9783824420667 - 1995
In case cover and title do not match, the title is correct

Sekundarionen- und Neutralteilchenmassenspektrometrie an oxidischen Dunnschichtsystemen: Der Einfluss ionenbeschussindizierter Prozesse auf die Sekundarteilchenemission im Zerstaubungsgleichgewicht und an Schichtgrenzflachen 1995 edition

Price
$ 56.99
excl. VAT

Ordered from remote warehouse

Expected to be ready for shipping Jun 3 - 9
Add to your iMusic wish list

211 pages, black & white illustrations, bibliography

Media Books     Paperback Book   (Book with soft cover and glued back)
Released 1995
ISBN13 9783824420667
Publishers Deutscher Universitatsverlag
Pages 211
Dimensions 155 × 235 × 12 mm   ·   312 g
Language German  

Mere med samme udgiver