Una valutazione delle caratteristiche dei film sottili di ZnO con il metodo mSILAR - Deepu Thomas - Books - Edizioni Sapienza - 9786204031651 - August 24, 2021
In case cover and title do not match, the title is correct

Una valutazione delle caratteristiche dei film sottili di ZnO con il metodo mSILAR

Price
$ 39.49
excl. VAT

Ordered from remote warehouse

Expected to be ready for shipping Jul 1 - 7
Add to your iMusic wish list

I materiali semiconduttori nanostrutturati di terza generazione sono di grande interesse per le loro proprietà multifunzionali e le loro applicazioni. Le nanostrutture di ZnO sono state impiegate per varie applicazioni che vanno dall'elettronica all'optoelettronica, dal rilevamento alle applicazioni biomediche e ambientali, grazie alle loro proprietà. Il presente libro si concentra sulla sintesi, caratterizzazione, applicazioni di film sottili di ZnO con il metodo mSILAR.

Media Books     Paperback Book   (Book with soft cover and glued back)
Released August 24, 2021
ISBN13 9786204031651
Publishers Edizioni Sapienza
Pages 84
Dimensions 152 × 229 × 5 mm   ·   143 g
Language Italian  

More by Deepu Thomas

Show all